LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
簡(jiǎn)要描述:
LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)[特點(diǎn)]-LE-373是一種可測(cè)量非磁性膜厚度的膜厚計(jì),例如磁性金屬上的鍍層(不包括電解鎳鍍層)和涂層-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī),并且是一種應(yīng)用。 (測(cè)量線)具備存儲(chǔ)功能,測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),膜厚管理的上下限設(shè)定,簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)處理,數(shù)據(jù)輸出等16種功能
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-21
LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
[特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測(cè)量非磁性膜厚度的膜厚計(jì),例如磁性金屬上的鍍層(不包括電解鎳鍍層)和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī),并且是一種應(yīng)用。 (測(cè)量線)具備存儲(chǔ)功能,測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),膜厚管理的上下限設(shè)定,簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)處理,數(shù)據(jù)輸出等16種功能
LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
規(guī)格/尺寸信息
膜厚儀 | 測(cè)量范圍(μm) | 0-2500 | |
---|---|---|---|
分辨率(μm) | 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm | 方法 | 電磁感應(yīng)式 |
測(cè)量目標(biāo) | 磁性材料上的非磁性膜 | 準(zhǔn)確性 | 小于50μm:±1μm,50μm或更大且小于1000μm:±2%,1000μm或更大:±3% |
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM E 376 / JIS H0401 / ISO 1460 / ISO 2064 / ISO 2178 / ISO 2808 / BS 3900-C5ASTM B 499 / JIS K5600-1-7 / ASTM D 7091-5 / JIS H8401 / JIS H8501 / JIS H8641 / ISO 19840 | 顯示方式 | 數(shù)字(帶背光的LCD,小顯示數(shù)字為0.1μm) |
外部輸出 | 可以輸出到個(gè)人計(jì)算機(jī)(USB或RS-232C)或打印機(jī)(RS-232C) | 電源供應(yīng) | 電池1.5V(AA堿性)x 4 |
能量消耗 | 80mW(背光關(guān)閉時(shí)) | 工作溫度極限 | 0-40℃ |
產(chǎn)品功能/規(guī)格
產(chǎn)品基本規(guī)格/功能
●緊湊輕巧的機(jī)身
尺寸為寬75mm,長(zhǎng)145mm,厚31mm,質(zhì)量340g。由于尺寸是可以單手獲得的,因此即使在測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)也可以輕松使用。
●具備多種功能
具備正常膜厚控制所需的所有功能。
應(yīng)用程序選擇,背景校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,上/下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測(cè)量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測(cè)量方法,維護(hù)模式等??梢愿鶕?jù)需要設(shè)置16種功能。
●完整選項(xiàng)
可選的測(cè)量架LW-990使得易于測(cè)量難以測(cè)量的彎曲表面(例如管道),甚至在測(cè)量普通平面時(shí),也可以將重復(fù)誤差和人為誤差降至低。
另外,通過使用數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger LDL-03”和“ McWAVE series”,可以以MS Excel格式保存數(shù)據(jù),編輯測(cè)量數(shù)據(jù)并創(chuàng)建各種管理圖。 ..
(McWAVE系列是CEC的商標(biāo),MS Excel是Microsoft的商標(biāo)。)
選擇架“ LW-990”
●測(cè)量原理
當(dāng)電磁吸引型(LE-373 Fe探頭)
交流電磁鐵靠近鐵(磁性金屬)時(shí),穿過線圈的磁通量會(huì)根據(jù)接近距離而變化,因此施加在線圈兩端的電壓也會(huì)發(fā)生變化。
電磁膜厚度計(jì)從電流值讀取該電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚度,該膜厚度用于測(cè)量磁性金屬上的非磁性膜。
●規(guī)格
測(cè)量方式 | 電磁感應(yīng)式 |
---|---|
測(cè)量目標(biāo) | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
探測(cè) | 單點(diǎn)接觸恒壓型(LEP-J) |
測(cè)量范圍 | 0-2,500μm或99.0密耳 |
符合標(biāo)準(zhǔn) | JIS K5600-1-7,JIS H0401,JIS H8401, JIS H8501,JIS H8641 / ISO 1460, ISO 2064,ISO 2178,ISO 2808, ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499, ASTM D 7091-5,ASTM E 376 |
應(yīng)用程序 部署內(nèi)存 | 100 |
測(cè)量精度 | 小于50μm:±1μm,50μm或更大且小于1,000μm:±2%,1,000μm或更大:±3% |
解析度 | 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm |
資料儲(chǔ)存 | 39,000點(diǎn) |
附加功能 | 應(yīng)用程序選擇,背景校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測(cè)量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值),顯示選擇,日期/時(shí)間, 自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測(cè)量方法,維護(hù)方式 |
顯示方式 | 數(shù)字(LCD 128 x 64點(diǎn)帶背光,小顯示數(shù)字為0.1μm) |
外部輸出 | 個(gè)人計(jì)算機(jī)(USB或RS-232C) |
電源供應(yīng) | 電池1.5V(AA堿性)x 4 |
能量消耗 | 80mW(背光關(guān)閉時(shí)) |
電池壽命 | 100小時(shí)(背光關(guān)閉時(shí)連續(xù)使用) |
工作溫度極限 | 0至+ 40°C |
尺寸/質(zhì)量 | 75(W)x 145(D)x 31(H)毫米,0.34千克 |
配件 | 標(biāo)準(zhǔn)板(10μm,50μm,100μm,500μm,1,000μm,1,500μm,近似值,每組1個(gè),總共6張), 標(biāo)準(zhǔn)板盒,AA堿性電池1.5 V,探頭適配器,手提箱,鐵底座 |
選項(xiàng) | 標(biāo)準(zhǔn)板(配件以外的厚度),測(cè)量臺(tái)“ LW-990”,數(shù)據(jù)記錄器軟件“ LDL-03”,個(gè)人計(jì)算機(jī)電纜,RS-232C-USB電纜, 數(shù)據(jù)管理軟件“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Std。”,“ McWAVE Pro” “。”“ MultiProp” |